設(shè)備用途：

用測(cè)試各類(lèi)電子電工產(chǎn)品、零部件、材料在快速的經(jīng)過(guò)極高溫和極低溫的熱脹冷縮引起的化學(xué)和物理變化對(duì)其造成的損傷，真實(shí)的模擬其環(huán)境變化，檢驗(yàn)其可靠性和穩(wěn)定性，找出缺陷，以便改進(jìn)。

試驗(yàn)參考標(biāo)準(zhǔn)：

GJB 150.5A-2009溫度沖擊試驗(yàn)

GJB 360B-2009溫度沖擊試驗(yàn)

GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗(yàn)

GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則

GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

設(shè)備特點(diǎn)：

*箱體鈑金：

  內(nèi)箱：304不銹鋼或鏡面不銹鋼；

  外箱：304不銹鋼或冷軋鋼板雙面烤箱，任由客戶選配，可滿足不同試驗(yàn)室風(fēng)格要求；

  保溫層：高密度聚氨酯+玻璃纖維棉整體發(fā)泡，厚度100mm；

*箱體結(jié)構(gòu)：

  設(shè)備為二箱式，一箱為熱沖擊區(qū)，二箱為冷沖擊區(qū)，通過(guò)提籃上升和降落將樣品進(jìn)行高溫和低溫度沖擊；

*制冷系統(tǒng)四大件：

  壓縮機(jī)：根據(jù)客戶溫度條件訂制法國(guó)泰康、德國(guó)比澤爾、美國(guó)谷輪、德國(guó)博客等國(guó)際知名高品質(zhì)壓縮機(jī)；

  冷凝器：根據(jù)客戶溫度條件選用國(guó)際知名品牌特殊訂制；

  蒸發(fā)器：根據(jù)客戶溫度條件選用國(guó)際知名品牌特殊訂制；

  節(jié)流閥：意大利卡士妥或美國(guó)Sporlan；

*電控系統(tǒng)：

  繼電器、接觸器：施耐德或歐姆龍；

  發(fā)熱絲：鈦合金特殊訂制；

  控制器：進(jìn)口工業(yè)級(jí)微電腦控制器，抗積分飽和PID，BTC平衡調(diào)溫控制方式，BTHC平衡調(diào)溫調(diào)濕控制方式；

設(shè)備規(guī)格：

性能參數(shù)：